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DEI離散輸入評估板：航空電子與高壓信號采集的可靠測試平臺

發布時間：2025-08-21 08:41:53 瀏覽：3053

　　在航空電子、工業自動化及高可靠性系統中，離散信號(如開關狀態、傳感器信號)的準確采集與數字化處理至關重要。為滿足這一需求，Device Engineering Incorporated (DEI)推出了DEI128x系列離散輸入評估板，專門用于測試和驗證其高性能離散輸入集成電路(IC)。該評估板兼容多種DEI IC型號，支持高壓環境下的信號采集、抗干擾測試及靈活配置，是工程師開發高可靠性系統的理想工具。

DEI離散輸入評估板：航空電子與高壓信號采集的可靠測試平臺

　　產品目的

　　用途：測試和評估DEI公司多種離散輸入接口芯片(Discrete Input ICs)。

　　兼容性：新IC設計盡可能保持引腳兼容(如DEI1282與DEI1284)。

　　支持評估的芯片列表

型號	功能描述
DEI1026A	6通道，檢測OPEN/GND，符合ABD0100標準。
DEI1054	6通道，檢測28V/OPEN。
DEI1066	8通道，GND/OPEN檢測，SPI輸出，符合ABD0100。
DEI1067	8通道，GND/OPEN檢測，SPI輸出，符合ARINC 735A和ABD0100。
DEI1160	8通道，可編程檢測GND/OPEN或28V/OPEN，SPI接口。
DEI1166	8通道，GND/OPEN檢測，并行輸出，5V-18V供電。
DEI1167	8通道，GND/OPEN檢測，并行輸出，固定12V供電。
DEI1184	8通道，可編程檢測，符合ABD0100H高壓保護標準。
DEI1188	8通道，GND/OPEN檢測，SPI接口，符合ABD0100H閾值和遲滯要求。
DEI1198	8通道，GND/OPEN檢測，并行三態總線輸出，高防雷擊瞬態抗擾度（需外接電阻/TVS）。
DEI1282/1284	8通道，可配置為GND/OPEN或28V/OPEN，SPI接口，內置自檢（BIT）。1284需外接3kΩ電阻和TVS以實現Level 4/5防雷擊保護。